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tessent in-system test
羅克韋爾自動(dòng)化在NVIDIA GTC 2025大會(huì)上首次展示Emulate3D Factory Test
工控自動(dòng)化
羅克韋爾自動(dòng)化
NVIDIA GTC
Emulate3D Factory Test
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2025-03-19
西門(mén)子推出Tessent In-System Test,在硅片全生命周期內(nèi)實(shí)現(xiàn)先進(jìn)的確定性測(cè)試
EDA/PCB
西門(mén)子
Tessent In-System Test
確定性測(cè)試
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2024-11-13
是德科技推出System Designer和Chiplet PHY Designer,優(yōu)化基于數(shù)字標(biāo)準(zhǔn)的仿真工作流程
測(cè)試測(cè)量
是德科技
System Designer
Chiplet PHY Designer
仿真
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2024-08-01
SGS為地平線Matrix Mono System頒發(fā)ISO 26262產(chǎn)品認(rèn)證證書(shū)
汽車(chē)電子
SGS
地平線
Matrix Mono System
ISO 26262
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2024-05-01
西門(mén)子發(fā)布Tessent RTL Pro強(qiáng)化可測(cè)試性設(shè)計(jì)能力
EDA/PCB
西門(mén)子
Tessent RTL Pro
可測(cè)試性設(shè)計(jì)
|
2023-10-19
MathWorks在MATLAB和Simulink發(fā)行版2023b中推出Simulink Fault Analyzer和Polyspace Test
EDA/PCB
MathWorks
MATLAB
Simulink
Simulink Fault Analyzer
Polyspace Test
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2023-09-21
全新測(cè)量、控制、試驗(yàn)管理平臺(tái)軟件- imc STUDIO 2023
嵌入式系統(tǒng)
imc STUDIO 2023
imc Test&Measurement
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2023-05-08
新的MATLAB Test使工程師和研究人員能夠大規(guī)模開(kāi)發(fā)、執(zhí)行、測(cè)量和管理MATLAB代碼中的動(dòng)態(tài)測(cè)試
嵌入式系統(tǒng)
MATLAB Test
MATLAB
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2023-03-22
2022 AVEVA PI System 中國(guó)用戶(hù)大會(huì)成功舉辦
智能計(jì)算
AVEVA
PI System
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2022-11-22
大聯(lián)大友尚集團(tuán)推出基于onsemi和GaN System產(chǎn)品的PD快充電源方案
電源與新能源
大聯(lián)大友尚
onsemi
GaN System
PD快充電源
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2022-09-20
e絡(luò)盟開(kāi)售NI最新Test Workflow軟件
測(cè)試測(cè)量
e絡(luò)盟
NI
Test Workflow
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2022-07-14
國(guó)微思爾芯發(fā)布全球首款FPGA驗(yàn)證仿真云系統(tǒng)Prodigy Cloud System
嵌入式系統(tǒng)
國(guó)微思爾芯
FPGA
Prodigy Cloud System
|
2020-05-24
國(guó)微思爾芯發(fā)布全球首款FPGA驗(yàn)證仿真云系統(tǒng)Prodigy Cloud System
嵌入式系統(tǒng)
國(guó)微思爾
FPGA
Prodigy Cloud System
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2020-05-22
Mentor 推出 Tessent Safety 生態(tài)系統(tǒng)以滿足自動(dòng)駕駛時(shí)代的 IC 測(cè)試要求
汽車(chē)電子
Mentor
Tessent Safety
自動(dòng)駕駛
IC 測(cè)試
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2019-11-22
ADI公司收購(gòu)Test Motors,擴(kuò)展面向工業(yè)4.0的機(jī)器狀態(tài)監(jiān)控方案
ADI
Test Motors
工業(yè)4.0
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2019-11-01
羅德與施瓦茨聯(lián)合Marvin Test Solutions共同為5G波束賦型IC開(kāi)發(fā)了一個(gè)交鑰匙生產(chǎn)型測(cè)試解決方案
手機(jī)與無(wú)線通信
羅德與施瓦茨
Marvin Test Solutions
5G波束賦型IC
交鑰匙生產(chǎn)型測(cè)試解決方案
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2019-07-23
Windows 10資源管理全新概念設(shè)計(jì)來(lái)了:顏值不俗
消費(fèi)電子
Windows
10概念設(shè)計(jì)
luent Design System
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2019-05-05
基于凌華科技與System Generator的GPS快速捕獲算法的實(shí)現(xiàn)與驗(yàn)證
工控自動(dòng)化
凌華科技
System Generator
GPS
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2016-10-29
RIGOL示波器“comparo”彰顯出Smarter System之先進(jìn)
測(cè)試測(cè)量
comparo
Smarter
System
RIGOL
|
2016-10-22
C++test在對(duì)Tornado 2.2-VxWorks-5.5 simulator 下針對(duì)C++代碼單元測(cè)試
測(cè)試測(cè)量
simulator
Tornado
VxWorks
test
|
2016-10-22
思科推出IoT System,提供物聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用完整軟硬件
嵌入式系統(tǒng)
思科
IoT System
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2015-07-02
Mentor Graphics發(fā)布Xpedition System
EDA/PCB
Mentor Graphics
Xpedition System
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2014-11-12
面向設(shè)備編程-嵌入式微系統(tǒng)連載之六
嵌入式系統(tǒng)
嵌入式微系統(tǒng)
System
ARM
|
2014-09-10
基于VxWorks/Linux/Android的分布式開(kāi)發(fā)測(cè)試環(huán)境探索與實(shí)現(xiàn)
嵌入式系統(tǒng)
Workbench
操作系統(tǒng)
Test
Management
|
2013-10-23
8位AVR得到Red/System語(yǔ)言支持
嵌入式系統(tǒng)
8位AVR
Red
System
語(yǔ)言支持
|
2013-10-17
RIGOL示波器“comparo”彰顯出Smarter System之先
測(cè)試測(cè)量
comparo
Smarter
System
RIGOL
|
2013-04-23
基于LMS Test. Lab 的車(chē)內(nèi)聲振傳遞路徑分析
嵌入式系統(tǒng)
車(chē)內(nèi)聲振
傳遞路徑
LMS
Test.
Lab
|
2013-04-09
基于LMS Test.Xpress測(cè)試系統(tǒng)的薄型天埋室內(nèi)機(jī)噪音診斷
測(cè)試測(cè)量
噪音診斷
LMS
Test.Xpress
頻譜尖峰值
|
2013-02-06
基于ESL并采用System C和System Verilog的設(shè)計(jì)流程
模擬技術(shù)
System
Verilog
ESL
設(shè)計(jì)流程
|
2012-07-23
C++test 7.3新功能初探 -- 靜態(tài)規(guī)則分析部分
嵌入式系統(tǒng)
規(guī)則
分析
部分
靜態(tài)
初探
7.3
新功能
test
|
2012-06-20
C++test在對(duì)Tornado 2.2-VxWorks-5.5 simulator 下
測(cè)試測(cè)量
simulator
Tornado
VxWorks
test
|
2012-06-20
ARM RVDS - C++test Window下的測(cè)試
測(cè)試測(cè)量
Window
RVDS
test
ARM
|
2012-06-20
Hughes宣布發(fā)布HX System 4.0
手機(jī)與無(wú)線通信
Hughes
移動(dòng)衛(wèi)星通信
HX System 4.0
|
2012-02-28
基于System Generator的目標(biāo)跟蹤的算法實(shí)現(xiàn)
工控自動(dòng)化
Xilinx
System Generator
|
2012-02-13
賽靈思System Generator中的時(shí)間參數(shù)
工控自動(dòng)化
參數(shù)
時(shí)間
Generator
System
|
2011-11-22
e絡(luò)盟宣布引入飛思卡爾半導(dǎo)體公司的塔式系統(tǒng)
嵌入式系統(tǒng)
element14
微處理器
Tower System
|
2011-10-21
基于CPLD和Embedded System的LED點(diǎn)陣顯示
嵌入式系統(tǒng)
點(diǎn)陣
顯示
LED
System
CPLD
Embedded
基于
|
2011-07-07
Test Advantage 收購(gòu)Microstats
測(cè)試測(cè)量
Test Advantage
Microstats
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
|
2011-06-07
System C特點(diǎn)及FPGA設(shè)計(jì)
嵌入式系統(tǒng)
設(shè)計(jì)
FPGA
特點(diǎn)
System
|
2010-12-11
基于PXI和LabVIEW的FCT(Functional Circuit Test)
測(cè)試測(cè)量
Functional
LabVIEW
Circuit
Test
|
2010-05-10
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